A. Vallero, A. Savino, G. Politano, S. Di Carlo, A. Chatzidimitriou, S. Tselonis, M. Kaliorakis, D. Gizopoulos, M. Riera, R. Canal, A. Gonzalez, M. Kooli, A. Bosio, G. Di Natale, 2016 IEEE International Test Conference (ITC), Fort Worth, TX, 2016, pp. 1-10., doi: 10.1109/TEST.2016.7805863
PDF DOI