Clereco

Cross-Layer Early Reliability Evaluation for the Computing cOntinuum

A. Vallero, A. Savino, G. Politano, S. Di Carlo, A. Chatzidimitriou, S. Tselonis, M. Kaliorakis, D. Gizopoulos, M. Riera, R. Canal, A. Gonzalez, M. Kooli, A. Bosio, G. Di Natale, 2016 IEEE International Test Conference (ITC), Fort Worth, TX, 2016, pp. 1-10., doi: 10.1109/TEST.2016.7805863

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A. Vallero, S. Tselonis, N. Foutris, M. Kalioraki, M. Kooli, A. Savino, G. Politano, A. Bosio, G. Di Natale, D. Gizopoulos, S. Di Carlo Elsevier Microprocessors and Microsystems, doi:10.1016/j.micpro.2015.06.003, June 2015

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Cassano, L.; Bosio, A.; Di Natale, G., in Test Symposium (ETS), 2014 19th IEEE European , vol., no., pp.1,2, 26-30 May 2014

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Di Carlo, S.; Vallero, A.; Gizopoulos, D.; Di Natale, G.; Grasset, A.; Mariani, R.; Reichenbach, F. in Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), 2014, pp.199,205, 27-29 August 2014

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Di Carlo, S.; Vallero, A; Gizopoulos, D.; Di Natale, G.; Gonzalez, A; Canal, R.; Mariani, R.; Pipponzi, M.; Grasset, A; Bonnot, P.; Reichenbach, F.; Rafiq, G.; Loekstad, T.,, in IEEE 20th International On-Line Testing Symposium (IOLTS), 2014, pp.228-233, 7-9 July 2014

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Kooli, M.; Di Natale, G., in 9th IEEE International Conference On Proceedings of the Design & Technology of Integrated Systems In Nanoscale Era (DTIS), 2014 , pp.1,6, 6-8 May 2014

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